HE-ZQ-5417连接器蒸气老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验；半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。

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【详细介绍】HE-ZQ-5417连接器蒸气老化试验箱

HE-ZQ-5417连接器蒸气老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验；半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。微电脑温度控制器、LED数字显示，PID+SSR控制,白金电阻温度传感器（PT-100），分辨率0.1℃，全自动安全保护装置。

【技术规格参数】

规格型号：HE-ZQ-5417
内部尺寸：500×400×170（W×H×D）mm；
外部尺寸:600×500×420（W×H×D）mm；
内外箱体材质：SUS304#优质不锈钢板；
保温层：PV发泡胶
升温时间:大约40分钟；控制功能:PID+SSR,数字式显示；
蒸气温度: 97℃；
计时功能：1～9999H/M/S，附时到报警功能，时间到达后切断电源；
水位控制：低水位报警功能；
电源： AC 220V±10% 50Hz 1.0KW

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HE-ZQ-5417连接器蒸气老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验；半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。

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